臺(tái)山錫膏三維檢測(cè)儀器-億昇光電-錫膏三維檢測(cè)儀器廠家 ：

智能插件工作臺(tái),目檢指引機(jī),復(fù)檢機(jī)廠家 同樣的規(guī)則也適用于C-leads器件的 彎月型和器件本體兩側(cè)的焊盤設(shè)計(jì)。這里，我們建議Xc對(duì) Xi的比率稍微大于1.5。值得注意的是：任何元器件的長(zhǎng)度 變化也必須計(jì)算在內(nèi)。

“鷗翼”型引腳器件

通常，這類器件的判定標(biāo)準(zhǔn)可以通過(guò)對(duì)毛細(xì)效應(yīng)在垂 直方向的作用的分析中找到。由于毛細(xì)力，焊錫從焊盤末端 爬到引腳上形成焊點(diǎn)。由于工藝波動(dòng)和器件邊緣的阻擋作 用，導(dǎo)致不能完全形成一個(gè)完整的上半月型焊點(diǎn)

隨著現(xiàn)代電子產(chǎn)品的高精細(xì)化發(fā)展，微小缺陷的檢出要求越來(lái)越高，提高圖像傳感器解析度是一種比較直接的選擇，對(duì)細(xì)微缺陷點(diǎn)，線寬有更強(qiáng)識(shí)別能力，但檢測(cè)能力提升的同時(shí)，也必須考慮到設(shè)備成本問(wèn)題，IP（image  processor）處理量大，數(shù)據(jù)處理能力要求高，甚至出現(xiàn)影響產(chǎn)能等問(wèn)題，因此，不會(huì)單獨(dú)提高硬件成本，搭配合適的光源，提高后臺(tái)算法邏輯對(duì)同一缺陷進(jìn)行復(fù)判是各AOI公司重點(diǎn)研發(fā)的方向。

AOI檢測(cè)不僅僅是一部檢測(cè)設(shè)備，對(duì)大量不良結(jié)果進(jìn)行分類和統(tǒng)計(jì)，可以發(fā)現(xiàn)不良發(fā)生的原因，在工藝改善和生產(chǎn)良率提升中也正逐步發(fā)揮著更重要的作用，因此，可以預(yù)期未來(lái)AOI檢測(cè)技術(shù)將在半導(dǎo)體與電子電路檢測(cè)中將會(huì)發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。并可提供在線檢測(cè)方案，以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。通過(guò)使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過(guò)程的早期查找和消除錯(cuò)誤，以實(shí)現(xiàn)良好的過(guò)程控制。